Microscopie FT-IR si Raman

Producator: Bruker Optics
Cod produs: Microanalysis
Descarca documente:

Cantitate

Adaugă in Wishlist

Compară produsul

Descriere
Product Videos(1)

Microanaliza

Analize microscopice IR si Raman

Microanaliza spectroscopica moleculara este utilizata pentru a obtine informatii despre compozitia chimica a probelor la nivel microscopic si coroborarea acestora cu imaginile in lumina vizibila. Dimensiunea obiectelor care pot fi masurate prin microscopie IR si Raman variaza intre 50 μm si 1 cm. Rezolutia spatiala a masuratorilor depinde de tehnica de masurare utilizata si de lungimea de unda a luminii care este absorbita, respectiv reflectata de proba.

Rezolutiile spatiale tipice pentru diferite tehnici de masurare:

Microscopia FT-IR (LUMOS si seria HYPERION): ~5-10 μm;
Imagistica FT-IR (HYPERION 3000): ~1-5 μm;
Microscopia FT-Raman (RAMANScope III): ~5 μm;
Microscopia Raman dispersiva (SENTERRA II): ~1 μm.

Aplicatii tipice ale microscopiei FT-IR si Raman:

Analiza particulelor;
Determinarea compozitiei chimice a defectelor si contaminantilor din diferite probe;
Analiza omogenitatii si identificarea depunerilor;
Analiza chimica a straturilor individuale dintr-o matrice multi-strat (ex. polimeri stratificati, urme de vopsea, etc.);
Determinarea distributiei compusilor intr-un amestec heterogen complex (ex. tesuturi biologice, tablete, polimeri).
Elucidarea structurii fine a diverselor produse - reverse engineering

Pentru realizarea masuratorilor de particule si defecte se recomanda utilizarea unui microscop FT-IR LUMOS sau HYPERION. Pentru analiza detaliata a polimerilor stratificati sau a urmelor de vopsea, tehnica ideala este microscopia FT-IR sau Raman. Materialele anorganice pot fi analizate mai ales cu ajutorul microscopului Raman. Pentru a determina rapid distributia diferitilor compusi dintr-o matrice complexa, imagistica FT-IR este metoda ideala.

Ca si in masuratorile macroscopice IR, modurile de masura in transmisie, reflexie si reflexie total atenuata (ATR) sunt disponibile si pentru microscopia IR. Intrucat tehnica ATR este cea mai utilizata pentru masurarea simpla si rapida a probelor fara o prepare prealabila, aceasta metoda este frecvent folosita si in cazul microscopiei IR. Microscoapele IR LUMOS si HYPERION dispun de obiective ATR puternice si automatizate, care permit inspectia probelor cu maxima eficienta indiferent de topografia suprafetelor si variatiile de duritate.

Straturile foarte subtiri de pe suprafetele reflective pot fi masurate cu tehnica GIR (reflexie de incidenta razanta). Pentru acest tip de masuratori, microscopul HYPERION se echipeaza cu un obiectiv cu unghi razant (GAO - Grazing Angle Objective) care permite chiar si analiza straturilor mono-moleculare.

Stand-Alone FT-IR Microscope with Full Automation - LUMOS from Bruker

The LUMOS is designed to be operated by non-experts for routine applications its exceptional sensitivity makes it also very suitable for high demanding applications. Stand-alone FT-IR microscope with full automation Highly comfortable and easy in use Motorized ATR crystal (ATR = Attenuated total reflection) Fully automated measurement in transmission, reflection and ATR mode Large working distance; allowing ample space for sampling Outperforming quality in both IR and VIS range Space saving footprint

Top

Microscopie FT-IR si Raman

Stand-Alone FT-IR Microscope with Full Automation - LUMOS from Bruker

Servicii Clienţi

Extra