- Home
- Categorii
- Sisteme pentru fiziologia umana si experimentala
- Spectrometrie FT-IR, FT-NIR, Raman, TD-RMN
- Instrumente
- Aplicatii
- Industria textila
- Laborator criminalistic
- Microanaliza
- Polimeri
- Produse alimentare si bauturi
- Proteomica
- Reciclare
- Semiconductori
- Industria hartiei
- Industria farmaceutica
- Controlul proceselor industriale
- Analize de suprafata
- Analize microbiologice
- Aplicatii medicale
- Bio-combustibili
- Cercetare si Invatamant
- Cereale si nutreturi
- Conservare si restaurare arta
- Instrumente
- Spectrometrie THz
- Sisteme personalizate
- Analizoare dedicate
- News
- Despre noi
- Contact
Semiconductori
Aplicatii in domeniul semiconductorilor
Bruker ofera prin tehnologia spectrometrelor FT-IR si Raman de ultima generatie solutii fiabile si nedistructive pentru controlul materialelor semiconductoare folosite in industria celulelor fotovoltaice si in electronica. Cu spectrometrele FT-IR si Raman Bruker beneficiati de mai mult de 30 ani de experienta in studiul semiconductorilor.
Controlul calitatii materialelor semiconductoare
- Controlul calitatii siliciului in procesele industriale cu CryoSAS si SiBrickScan;
- Analiza continutului de carbon si oxigen in siliciu la temperatura camerei;
- Masurarea impuritatilor superficiale, tip bor, fosfor etc.;
- Analiza straturilor de pasivare pe semiconductori;
- Determinarea grosimii epi-straturilor.
Masuratori pentru toata gama de materiale semiconductoare
- Tehnici de masurare a probelor fara contact;
- La temperatura camerei sau la temperaturi criogenice: azot lichid si heliu lichid;
- In conformitate cu standardele SEMI, ASTM si DIN;
- Moduri de analiza: transmitanta, reflectanta si foto-luminiscenta;
- Aplicabile atat pentru analiza probelor micro, cat si macro.
Numeroase alte aplicatii si optiuni sunt disponibile la cerere.
Copyright 2023 Russi Scientific Instruments