Analize de Suprafata si Studiul Materialelor

Analize de Suprafață şi Studiul Materialelor 

Straturile ultra-subțiri (de exemplu, straturile mono-moleculare) depuse pe suprafețe metalice sunt de obicei măsurate prin metoda IRRAS (spectrometrie de absorbție-reflexie in infraroşu) cu unghi de incidență razant. Pe suprafețele dielectrice unghiul de incidența optim diferă şi în unele cazuri, metoda adecvată de analiză poate fi spectrometria de transmisie. Măsurarea absorbției straturilor ultra-subțiri produce un semnal de 103 - 104 ori mai slab decât în mod obişnuit; detectarea unor astfel de semnale slabe impune folosirea unui spectrometru FT-IR cu raport semnal/zgomot înalt, sensibilitate mare şi cu un timp de achiziție scurt.

Întrucat vaporii de apă şi CO2 absorb în infraroşul mijlociu şi îndepărtat, absorbția lor poate interfera cu probele care au semnături spectrale slabe în aceeaşi regiune.

Pentru rezultate optime, spectrometrul FT-IR trebuie să fie capabil să mențina interferenṭa vaporilor de apă la un nivel minim. Alte cerințe importante pentru analizele de suprafață: interval dinamic ridicat al convertorului A/D (convertor analog/ digital pe 24 biți dual channel pentru toate modelele Bruker) şi deviere minimă a liniei de bază.

Bruker ofera mai multe spectrometre FT-IR care corespund acestor cerințe:

• Spectrometrul TENSOR II in configurație compactă, cu un design nou si performante excelente;
  
• Seria VERTEX: Vertex 70(70v) si Vertex 80(80v) – spectrometre FT-IR de cercetare, de inalta performanta.
  

Alte echipamente si accesorii pentru analize de suprafață:

• PMA 50, accesoriu de polarizare modulata pentru măsuratori PM-IRRAS şi VCD (dicroism circular vibrațional), compatibil cu seria TENSOR şi VERTEX;
  
• Accesorii de spectrometrie IR pentru măsuratori la interfața aer/apa;
  
• O gama largă de accesorii pentru compartimentul pentru probe: ATR, transmitanță, reflectanță speculară şi reflectanța difuză;
• Microscoapele FT-IR HYPERION si LUMOS;
  
• Sisteme Raman dispersive şi FT-Raman.